JEOL 6010LV
|   | RÉSOLUTION   
High vacuum mode4.0 nm à 20 kV
 8.0 nm à 3 kV
 15.0 nm à 1 kV
Low vacuum mode 5.0 nm à 20 kV
 GROSSISSEMENT 8X à x 300kX MODES D'IMAGERIE
en électrons secondaires (SEI)en électrons rétrodiffusés (BEI) | 
Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX et Détecteur pour la diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) e-Flash QUANTAX de la marque BRUKER
|  
 | 
Résolution en énergie < 129 eV à MnKaTaille 30 mm2Refroidi par effetExcellente performance en matière d'éléments légers et de faible énergie, gamme d'éléments B - AmImagerie CMOSRésolution de l'image : 720 x 540 pixelVitesse : jusqu'à 520 images/seconde (fps)L'acquisition et le traitement des données s'effectuent à l'aide de la même interface. | 
 
JEOL 7500F
|  
 | RÉSOLUTION     
1.0 nm à 15kV1.4 nm à 1kV (mode Gentle beam)2.0 nm à 1kV (mode SEM) GROSSISSEMENTMODES D'IMAGERIE
en électrons secondaires (2 détecteurs SEI ou LEI)en électrons rétrodiffusés (LABE)en électrons transmis (TED) POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION
mode SEM : 0.5 à 30 kV (par pas de 10V de 0.5 à 2.9kV et par pas de 100V de 2.9 à 30kV)mode GB : de 0.1 à 4 kV (par pas de 100V) | 
 
Microanalyseur X à sélection d’énergie JED-2300F
|  
 | 
Détecteur: Ultra Nine 30Taille 30 mm2Refroidissement par azote liquide (Dewar 9,5l)Résolution meilleure que 138 eV (FWHM) sur la raie du manganèse KaDétection à partir du Bore jusqu’à l’Uranium |